English
|
正體中文
|
简体中文
|
全文筆數/總筆數 : 815/1240
造訪人次 : 1075816 線上人數 : 1
RC Version 4.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by
NTU Library IR team.
搜尋範圍
全部CKUIR
學術單位
人力資源發展系
--國科會計畫
進階搜尋
登入
‧
上傳
‧
說明
‧
關於CKUIR
‧
管理
Ching Kuo University Institutional Repository
>
學術單位
>
人力資源發展系
>
國科會計畫
>
Item 987654321/697
資料載入中.....
請使用永久網址來引用或連結此文件:
https://dyhuir.dyhu.edu.tw/ir/handle/987654321/697
題名:
高科技製程本質較安全設計之研究---半導體製程危害本質安全評估
Studies on Inherently Safer Designs for High Tech. Processes---Inherently Safer Assessment for Semiconductor Process Hazards
作者:
陳俊瑜
;
王子奇
;
王國彬
日期:
2009
上傳時間:
2011-12-29T07:42:43Z
關聯:
國科會計畫編號:NSC97-2221-E238-019-MY3
主管機關 :行政院國家科學委員會
研究性質:應用研究
研究領域:環保工程
研究期間:9808~ 9907
顯示於類別:
[人力資源發展系] 國科會計畫
文件中的檔案:
沒有與此文件相關的檔案.
在CKUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.
DSpace Software
Copyright © 2002-2004
MIT
&
Hewlett-Packard
/
Enhanced by
NTU Library IR team
Copyright ©
-
回饋